El LS 13 320 XR ofrece datos de distribución de tamaño de partícula de primera calidad gracias a la tecnología avanzada PIDS,* que permite mediciones de alta resolución y un rango dinámico ampliado. Al igual que el LS 13 320, el analizador de tamaño de partícula XR proporciona resultados rápidos y precisos, y te ayuda a optimizar la eficiencia de tus flujos de trabajo. Algunas mejoras significativas te ayudan a detectar de manera confiable pequeñas diferencias que pueden tener un gran impacto en tus datos de análisis de partículas.

Rango de medición directa desde 10 nm hasta 3,500 µm Resalta automáticamente los resultados de aprobación/fallo para un control de calidad más rápido Software mejorado que simplifica la creación de métodos para mediciones estandarizadas Nuevos estándares de control para verificar adecuadamente el rendimiento del instrumento/módulo

Características de los analizadores de tamaño de partícula LS 13 320 XR Detecta pequeñas diferencias Rango de medición ampliado: 10 nm – 3,500 µm La difracción láser junto con la tecnología avanzada de Difracción de Dispersión Diferencial de Intensidad de Polarización (PIDS) permiten la medición y el informe de datos reales con alta resolución hasta 10 nm Proporciona una detección precisa y confiable de múltiples tamaños de partículas en una sola muestra Software fácil de usar El software ADAPT presenta una verificación automática de aprobación/fallo Los métodos preconfigurados ofrecen resultados con 3 clics o menos Simplifica el funcionamiento del analizador tanto para expertos como para usuarios novatos Superposición de datos históricos con un solo clic Diagnostics intuitivos mantienen informado durante el muestreo Creación de métodos simplificada para mediciones estandarizadas El software ADAPT permite cumplir con la Parte 11 del CFR 21 Sistema de seguridad personalizable para satisfacer diversas necesidades Elige entre 4 niveles de seguridad La configuración de alta seguridad admite la Parte 11 del CFR 21 Tecnología PIDS* para la detección directa de partículas de 10 nm 3 longitudes de onda de luz (450, 600 y 900 nm) irradian muestras con luz polarizada vertical y horizontal El analizador mide la luz dispersada de las muestras sobre un rango de ángulos Las diferencias entre la luz radiada horizontal y verticalmente para cada longitud de onda proporcionan datos de distribución de tamaño de partícula de alta resolución.